日本質(zhì)構(gòu)儀對聚合物的穿刺測試

在某些情況下，改變測試方法可以比傳統(tǒng)的兩點(diǎn)拉伸更簡單，同時仍能提供制造商或研究人員所需的結(jié)果。

薄膜支撐裝置（Film Support Rig）可以測量精細(xì)薄膜的機(jī)械性能。在進(jìn)行測試之前，將樣品放置在凸起的有機(jī)玻璃平臺上的孔上，頂板可防止樣品在測試過程中滑落，然后將一個5 mm不銹鋼球型探頭向下放入孔中時進(jìn)行測試。將樣品置于雙軸拉伸狀態(tài)。記錄使膜破裂的最大力并稱為樣品的破裂強(qiáng)度。

還可以測量薄膜的回彈性和松弛特性。回彈力可以通過在縮回球探針之前將薄膜表面壓低到選定的距離來評估，并計算為壓縮功和回縮功之間的比率。類似地，可以通過在測試中增加一個保持期來測量松弛，以評估產(chǎn)品的恢復(fù)。爆破強(qiáng)度、回彈性和松弛度是決定任何聚合物機(jī)械性能的重要因素，使制造商能夠優(yōu)化產(chǎn)品結(jié)構(gòu)和配方。

用于測量多個薄膜爆裂測試的類似裝置－可轉(zhuǎn)位薄膜支撐裝置（Indexable Film Support）