產(chǎn)品資料
日本進(jìn)口KJTD相控陣超聲波探傷儀FlashFocus
產(chǎn)品名稱: 日本進(jìn)口KJTD相控陣超聲波探傷儀FlashFocus
產(chǎn)品型號:
產(chǎn)品特點: 日本進(jìn)口KJTD相控陣超聲波探傷儀FlashFocus128通道并行驅(qū)動型高速相控陣探傷系統(tǒng)現(xiàn)已上市！在過去很難進(jìn)行瑕疵檢測的特殊環(huán)境中以及需要瑕疵檢測速度的特殊環(huán)境中，F(xiàn)lash Focus與超聲波瑕疵檢測兼容。高速，高精度探傷支持所需的高質(zhì)量保證。
日本進(jìn)口KJTD相控陣超聲波探傷儀FlashFocus 的詳細(xì)介紹
日本進(jìn)口KJTD相控陣超聲波探傷儀FlashFocus
Flash Focus基本規(guī)格
| 模組 | |
|---|---|
| 傳輸脈沖類型 | 方波脈沖（40 ns至1μs，10 ns步進(jìn)） |
| 發(fā)射脈沖電源電壓 | 12、48、96伏 |
| 硬件過濾器 | 0.5-10 MHz高通濾波器 |
| 硬件掃描存儲器 | 高達(dá)8,000點 |
| HW B掃描存儲器 | 膏32,000點（自動壓縮）至62K點（可選） |
| 波形顯示 | 全波，RF波 |
| 頻帶 | 0.25-10兆赫 |
| 增益設(shè)定 | 0至80 dB 0.1 dB步長（大值取決于同時激發(fā)的數(shù)量） |
| 可用元素數(shù) | 128 |
| 同時激發(fā)數(shù) | 多128 |
| 循環(huán)數(shù) | 高達(dá)512 |
| 重復(fù)頻率（PRF） | ?43 kHz（小23 µs） |
| 采樣頻率 | 50 MHz / 10位 |
| DAC功能 | 膏14分 |
| 電源電壓 | 交流85?265 V |
| 軟件 | |
| 兼容探頭 | 扁平，聚焦，環(huán)形矩陣探頭，TRL矩陣探頭 |
| 聚焦方式 | 深度位置，光路，底部參考深度位置，散焦（擴散）（僅用于體積聚焦傳輸） |
| 延遲模式 | 延遲范圍0至40.94 µs DDF，多14點 |
| 顯示范圍 | A，B，C，D，S范圍 |
| 聲速設(shè)定 | 100-10000米/秒 |
| 瞄準(zhǔn)鏡 | 中頻門跟蹤功能 |
| 軟件收益 | 記錄數(shù)據(jù)的增益增加功能 |
特征
多可并行驅(qū)動128個元件
通過增加同時使用的元件數(shù)量，提高了光束聚焦能力，并且還增加了掃描圖案。
線性掃描
部門掃描
區(qū)域重點
動態(tài)深度聚焦
體積聚焦技術(shù)（磚立3704065）
鑫的相控陣技術(shù)可實現(xiàn)高速，高分辨率的缺陷檢測。
可以使用各種探針檢測缺陷
除了普通的線性探針，我們還使用矩陣探針和細(xì)間距探傷實現(xiàn)了更細(xì)的束斑尺寸。通過使用不同的探針可以在各種情況下進(jìn)行檢查。
線性探針
年度矩陣探測
方陣探頭
體積聚焦技術(shù)是我公司開發(fā)的相控陣超聲探傷技術(shù)（磚立3704065）。常規(guī)的相控陣掃描方法如下。
- 對于線性或扇形掃描，將發(fā)射光束指向一個方向，并且焦點位于軸的中心
- DDF或區(qū)域焦點一次聚焦在一個點上，然后繼續(xù)沿光束移動
另一方面，體積聚焦是一種可以立即掃描整個橫截面（例如樣品體積）的新方法。通過同時激發(fā)所有元素來創(chuàng)建一個不分散的平面波。
每個平行的元素都從底面，夾雜物，缺陷等處接收反射的脈沖能量。然后，并行數(shù)字硬件處理實時創(chuàng)建B掃描和C掃描。
從概念上講，體積焦點類似于DDF，但體積焦點可以覆蓋所有橫截面或體積，而不僅僅是沿深度軸。
日本進(jìn)口KJTD相控陣超聲波探傷儀FlashFocus
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